图书介绍
半导体器件参数测试自动化2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载
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- (苏)Ю.С.卡尔普主编;蔡连超,程文霖译 著
- 出版社: 北京:国防工业出版社
- ISBN:
- 出版时间:1966
- 标注页数:168页
- 文件大小:4MB
- 文件页数:172页
- 主题词:
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图书目录
目录5
中功率脉冲晶体管自动分类机5
晶体管集电极电容Cк和集电极-基极回路时间常数rбCк的高稳定性晶体管化测量电路16
半导体结反向电流漂移的测量26
晶体管脉冲状态放大系数Bимп的自动测量38
脉冲晶体管时间特性的测量51
中功率脉冲晶体管寿命试验自动参数测量仪60
隧道二极管直流参数的直接测量方法71
小功率p-n-p晶体管寿命试验台89
小功率p-n-p晶体管寿命试验台的供电系统95
晶体管连接到自动参数测量部件的转换器106
小功率p-n-p晶体管Iко的自动测量114
小功率p-n-p晶体管β参数的自动测量126
小功率p-n-p晶体管1-α参数的自动测量132
小功率晶体管极限振荡频率分类仪145
高压整流二极管击穿电压的自动测定149
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