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目录1

第一章　绪论1

1.1 数字电路2

1.1.1　组合电路2

1.1.2　同步时序电路5

1.1.3　异步时序电路7

1.2　实际故障和测试14

1.3　逻辑故障模型18

参考资料21

习题22

第二章　组合电路测试的产生24

2.1 布尔差分法25

2.2　测试产生的其它代数方法33

2.3　路径敏化法和D算法34

2.4　临界路径测试产生法50

2.5　故障等效、支配和收缩54

2.6　测试简化和最小化57

2.7　冗余电路57

2.8　用于其它故障模型的测试产生法62

2.8.1　多固定故障63

2.8.2　二极管短路故障和桥接故障66

2.9 区分故障用的测试产生法73

2.10　特殊电路75

2.10.1　无扇出电路76

2.10.2　实现单边函数的电路76

2.10.3　线性组合电路77

2.10.4　迭代阵列77

参考资料79

习题81

第三章 时序电路测试的产生87

3.1 同步时序电路测试的产生89

3.1.1　时序电路中D-算法的推广91

3.1.2　置初值97

3.1.3　同步时序电路中临界路径测试算法的推广102

3.1.4　测试组的简化105

3.2 异步电路测试的产生106

3.2.1　异步电路的迭代阵列模型107

3.2.2　无临界冒险测试的产生112

3.2.3　延迟故障的测试产生118

3.2.4　电路-时间方程121

3.3.1　功能测试127

3.3 与电路实现无关的测试产生方法127

3.3.2　检查序列128

3.4 故障支配和特殊故障131

3.5　半导体随机访问存储器的测试134

3.6 随机测试的产生和测试141

3.6.1　实践141

3.6.2　理论147

3.7　利用跳变计数测试电路148

附录：常用的RAM功能测试模式152

参考资料156

习题158

第四章　逻辑级模拟168

4.1 逻辑模拟系统的概述169

4.1.1　输入电路描述170

4.1.3　输入数据语言172

4.1.2　模型建立172

4.1.4　预处理程序模块173

4.1.5　结构模块173

4.1.6　模拟模块174

4.1.7　输出模块176

4.1.8 中央处理机的模拟时间176

4.2　电路延迟177

4.2.1　传输延迟（△T）177

4.2.2　模糊延迟（△M-△m）178

4.2.3　上升-下降延迟（△R,△F）180

4.2.4　惯性延迟（△l）181

4.3　多值逻辑系统183

4.3.1　三值逻辑对检测冒险的应用184

4.3.2　五值逻辑系统191

4.3.3　八值逻辑模拟192

4.3.4　电路置初值194

4.4　基本模拟程序的结构195

4.4.1　编辑驱动模拟196

4.4.2　面向事件（活动）的模拟199

4.4.3　数据结构202

4.4.4　时间流控制机构和事件登记206

4.5　元件计算211

4.5.1　并行模拟212

4.5.2　两值逻辑模拟的元件计算方法213

4.5.3　多值逻辑模拟的元件计算方法214

4.6　故障模拟216

4.6.1　引言216

4.6.2　并行故障模拟219

4.6.3　演绎模拟221

4.6.3.1　两值演绎模拟222

4.6.3.2　三值演绎模拟227

4.6.4　同时故障模拟229

4.6.5　超活动故障233

4.6.6　故障模拟方法的比较233

4.7　模拟的振荡234

4.7.1　局部振荡控制234

4.7.2　全局振荡控制235

4.8　模型的建立236

参考资料238

习题240

第五章 可靠性设计——理论和方法245

5.1 自检查电路245

5.1.1　错误检测和校正码的应用246

5.1.2　检查电路254

5.1.3 自检查时序电路261

5.2　容错设计262

5.2.1　三模冗余263

5.2.2 N模冗余和混合冗余265

5.2.3　故障保险设计268

5.2.4　冗余系统的覆盖率270

5.3 系统诊断的数学模型272

5.4 简化测试的设计279

5.4.1　用奇偶级联电路实现组合函数280

5.4.2　观察点和控制点的设置282

5.4.3　含有移位寄存器的时序电路设计285

参考资料289

习题292

索引294