石墨烯技术前沿丛书 石墨烯及相关二维材料显微结构表征2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载

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第1章 绪论1

1.1 石墨烯及其他二维晶体的结构与性能3

1.1.1 石墨烯3

1.1.2 氮化硼7

1.1.3 过渡金属硫族化合物8

1.1.4 其他二维晶体9

1.2 本书内容的安排10

参考文献10

第2章 电子衍射及衍衬像分析14

2.1 电子衍射及衍衬象基础14

2.2 电子衍射及衍衬像分析在石墨烯研究方面的应用17

2.2.1 层数测定17

2.2.2 表面形貌分析21

2.2.3 晶粒分析23

2.2.4 堆垛顺序的判定和旋转堆垛层错分析25

2.3 电子衍射及衍衬像分析在其他二维晶体研究方面的应用29

2.3.1 氮化硼29

2.3.2 过渡金属硫族化合物31

2.3.3 范德瓦尔斯异质结构34

参考文献35

第3章 高分辨透射电子显微术39

3.1 高分辨电子显微像的形成40

3.1.1 试样对入射电子的散射41

3.1.2 电子波的传播和衍射42

3.1.3 高分辨像形成过程中的衬度传递函数44

3.1.4 球差校正电子显微镜50

3.2 高分辨电子显微像的计算机模拟52

3.2.1 Cowley-Moodie多层法52

3.2.2 高分辨显微像的计算机模拟53

3.3 高分辨透射电子显微术在石墨烯结构表征方面的应用55

3.3.1 石墨烯层数表征57

3.3.2 石墨烯缺陷结构表征60

3.3.3 石墨烯边缘结构表征74

3.4 高分辨TEM在其他二维材料结构表征方面的应用76

3.4.1 氮化硼76

3.4.2 过渡金属硫族化合物81

3.4.3 其他二维材料83

参考文献85

第4章 高分辨扫描透射电子显微技术92

4.1 高分辨扫描透射显微像的形成93

4.1.1 电子束斑的形成及影响因素94

4.1.2 电子通道效应96

4.1.3 非相干高分辨扫描透射像形成过程中的传递函数97

4.1.4 球差校正扫描透射显微镜99

4.1.5 高分辨扫描透射像的计算机模拟101

4.2 高分辨STEM在过渡金属硫族化合物结构表征中的应用101

4.2.1 过渡金属硫族化合物中的点缺陷表征103

4.2.2 过渡金属硫族化合物中的一维缺陷的表征109

4.2.3 过渡金属硫族化合物的层数与堆垛表征114

4.3 STEM在石墨烯和h-BN结构表征中的应用116

4.3.1 石墨烯的结构表征116

4.3.2 h-BN的结构表征121

参考文献124

第5章 能谱分析130

5.1 X射线能谱分析130

5.1.1 X射线能谱仪131

5.1.2 X射线能谱分析132

5.2 电子能量损失谱分析135

5.2.1 电子能量损失谱仪136

5.2.2 电子能量损失谱137

5.2.3 电子过滤像141

5.2.4 电子能量损失谱在石墨烯研究方面的应用141

5.2.5 电子能量损失谱在其他二维材料研究方面的应用148

参考文献149

第6章 原位透射电子显微术152

6.1 二维材料在辐照作用下的演变153

6.1.1 石墨烯在辐照作用下的演变153

6.1.2 氮化硼在辐照作用下的演变162

6.1.3 过渡金属硫族化合物在辐照作用下的演变165

6.1.4 其他二维材料在辐照作用下的演变168

6.2 二维材料在热场作用下的演变170

6.2.1 石墨烯在热场作用下的演变171

6.2.2 过渡金属硫族化合物在热场作用下的演变174

6.2.3 其他二维材料在热场作用下的演变177

6.3 二维材料在电场作用下的演变179

6.3.1 石墨烯在电场作用下的演变179

6.3.2 过渡金属硫族化合物在电场作用下的演变186

6.3.3 其他二维材料在电场作用下的演变188

6.4 二维材料在力场作用下的演变191

6.4.1 石墨烯在力场作用下的演变192

6.4.2 过渡金属硫族化合物在力场作用下的演变193

参考文献196

第7章 其他显微分析方法203

7.1 光学显微分析203

7.2 扫描电子显微分析212

7.2.1 扫描电子显微术212

7.2.2 电子背散射衍射分析219

7.2.3 原位扫描电子显微术220

7.3 低能电子显微分析222

7.3.1 低能电子显微术223

7.3.2 低能电子衍射229

7.3.3 光电子显微术231

7.4 扫描探针显微分析234

7.4.1 扫描隧道显微术235

7.4.2 弹道电子发射显微分析240

7.4.3 原子力显微术242

参考文献250