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第1章 单片机实验基础1

1.1 汇编语言及C51语言编程方法介绍1

1.1.1 汇编语言1

1.1.2 C51语言3

1.2 仿真器与用户实验板4

1.2.1 用户实验板介绍4

1.2.2 Keil C51集成开发环境介绍5

1.2.3 程序固化10

1.3 数字量输入／输出基础实验12

1.3.1 实验1——P1口输入／输出实验12

1.3.2 实验2——P1口音乐输出实验16

1.3.3 实验3——步进电机驱动实验22

第2章 单片机内部功能单元实验27

2.1 单片机内部功能单元简介27

2.1.1 51系列单片机的内部结构27

2.1.2 80C51的内部存储器组织28

2.2 实验4——十六进制数加法运算实验29

2.3 实验5——十进制数转BCD码实验30

2.4 实验6——定时器／计数器实验31

2.5 实验7——中断实验36

2.6 实验8——串行通信实验42

第3章 系统并行扩展实验53

3.1 系统扩展方法介绍53

3.2 实验9——扩展RAM实验53

3.3 实验10——并行扩展微型打印机实验56

3.4 实验11——用8255扩展I/O口实验59

3.5 实验12——并行扩展A/D转换器ADC0809实验61

3.6 实验13——扩展双积分A/D转换器ICL7135实验64

3.7 实验14——并行扩展D/A转换器DAC0832实验69

第4章 系统串行扩展实验71

4.1 串行口扩展实验71

4.1.1 实验15——串行扩展74HC595实现显示实验71

4.1.2 实验16——模拟串行口扩展74HC595实验74

4.2.1 I2C总线简介77

4.2 I2C总线扩展实验77

4.2.2 实验17——SAA1064驱动LED显示实验89

4.2.3 实验18——PCF8576驱动字符LCD显示实验91

4.2.4 实验19——ZLG7290扩展键盘显示实验94

4.2.5 实验20——PCF8574扩展I/O口实验99

4.2.6 实验21——扩展存储器AT24C08实验104

4.2.7 实验22——日历时钟PCF8563实验109

4.2.8 实验23——A/D、D/A转换器PCF8591实验120

4.3.1 One-wire协议简介123

4.3 One-wire接口芯片实验123

4.3.2 实验24——DS1990A实验132

4.3.3 实验25——DS18B20数字温度采集实验133

4.4 SPI接口芯片实验137

4.4.1 SPI协议简介137

4.4.2 实验26——MAX3100扩展串行口实验138

4.4.3 实验27——X5045看门狗实验143

4.4.4 实验28——TLC549串行A/D转换器实验154

4.4.5 实验29——TLC5620串行D/A转换器实验158

4.5 Microwire接口芯片实验165

4.5.1 Microwire协议简介165

4.5.2 实验30——串行存储器93C46扩展实验165

第5章 综合实验177

5.1 实验31——IC卡简易收费装置设计实验177

5.2 实验32——串行扩展平台实验189

5.3 实验33——多功能时钟及温度采集实验202

5.4.2 μC/OS-II实时操作系统221

5.4.1 嵌入式实时多任务操作系统221

5.4 μC/OS-II嵌入式实时多任务操作系统实验221

5.4.3 μC/OS-II的移植226

5.4.4 实验34——μC/OS-II下的多功能时钟及温度采集实验228

附录A 实验使用的芯片引脚图267

附录B MCS-15指令系统特点及速查表267

B.1 指令系统格式及标识267

B.2 指令系统分类268

B.3 MCS-51指令速查表272