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第一章 晶体学的基础知识1

1.1 晶体的一般概念1

1.2 晶体的分类1

1.3 晶体的通性5

1.4 晶体的几何学7

1.4.1 晶体的对称性7

1.4.2 晶体的外形18

1.4.3 晶面有理数定理31

1.4.4 晶面符号33

1.5 晶体坐标轴的选择规则35

1.6 晶带41

1.7 面间距d的计算41

1.8 230种空间群43

参考文献46

第二章 X射线衍射的基本知识47

2.1 X射线47

2.1.1 x射线的名称及其性质47

2.1.2 x射线的产生48

2.1.3 x射线谱49

2.1.4 x射线的吸收52

2.2 X射线在点阵平面上的反射53

2.2.1 布喇格定律54

2.2.2 系统消光及其应用55

参考文献56

第三章 X射线定向仪的常规应用57

3.1 X射线定向仪的工作原理57

3.2 仪器零位的调整60

3.2.2 平行光管位置的校正61

3.2.3 样品轴中心线是否与光束相交61

3.2.1 x射线管位置的调整61

3.3 Kα1，Kα2，Kβ特征谱线的鉴别63

参考文献64

第四章 晶体的快速定向法65

4.1 关于晶体定向的概念65

4.2 晶面夹角的计算及其在定向中的应用66

4.3 棒状晶体的快速定向法68

4.3.1 人工合成棒状晶体结晶学特性68

4.3.2 定向方法72

4.4.2 定向方法74

4.4.1 基本概念和原理74

4.4 测定(hkl)面族中多级衍射等偏角的简易定向法74

4.4.3 应用实例76

4.5 测定同一晶面(θKα-θKβ)角差(δ)的定向法77

4.5.1 原理和方法78

4.5.2 测量精度分析81

4.5.3 应用实例81

4.6 测定晶棒端面面指数的定向方法84

4.8 X射线定向仪的快速定向法应用于衍射仪85

4.7 几种定向方法的配合应用85

4.8.1 棒状晶体在衍射仪上的定向方法86

4.8.2 2θ及θ角异步调节定向法87

4.8.3 2θ及θ固定，调节样品方位的定向法88

4.9 部分晶体粉末衍射谱线卡90

参考文献182

第五章 检测晶体的几种方法183

5.1 单晶与多晶的快速鉴别183

5.2 棒状晶体轴向差的快速测定184

5.2.1 测定方法185

5.2.3 应用实例186

5.2.2 误差分析186

5.3 晶体晶胞常数及其变化的测定190

5.3.1 原理及计算方法190

5.3.2 测量误差分析及其校正193

5.3.3 应用实例196

5.4 晶体连生体的简易检测法197

5.4.1 检测方法198

5.4.2 应用实例199

5.5.1 仪器的调整及样品放置208

5.5 应用X射线定向仪快速检测金属单晶丝的方法208

5.5.2 检测内容及方法209

5.5.3 应用实例211

5.6 金属多晶材料择优取向的快速测定215

5.6.1 多晶、多晶择优取向及单晶金属材料的区别215

5.6.2 方法与实例216

5.7 附表220

附表1：立方系晶体晶面间夹角220

附表2：230种空间群及其反射条件225

附表3：d值与(θKα-θKβ)角差关系表233

参考文献272