图书介绍
半导体器件的可靠性 第2集2025|PDF|Epub|mobi|kindle电子书版本百度云盘下载
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- 中国科学技术情报研究所重庆分所编辑 著
- 出版社: 北京:科学技术文献出版社;重庆分社
- ISBN:
- 出版时间:1976
- 标注页数:68页
- 文件大小:5MB
- 文件页数:71页
- 主题词:
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图书目录
第二部分 单块微电路的构造1
第四部分 线性单块微电路1
第三部分 数字单块微电路1
目录1
第一部分 导论1
单块微电路的应用1
单块微电路的失效机构58
第一部分 导论58
第二部分 单块微电路制造过程中产生的缺陷58
第三部分 失效机构的讨论58
第四部分 筛选方法58
第五部分 纠正措施58
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