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第一篇 X射线光谱分析基础3

第一章 X射线物理学基础3

1.1 X射线光谱分析的发展简史3

1.2 X射线4

1.3 X射线的产生5

1.4 X射线谱6

1.5 X射线与物质的相互作用9

1.6 X射线荧光强度的理论计算16

参考文献19

第二章 X射线光谱分析概述21

2.1术语21

2.2 X射线光谱分析的基本原理与特点22

2.3 X射线光谱仪的分类23

2.4 X射线光谱分析的现状与发展25

参考文献28

第三章 特征X射线的激发30

3.1概述30

3.2 X射线管激发30

3.3放射源激发32

3.4加速粒子激发33

3.5不同激发方式的性能比较34

参考文献36

第二篇 X射线荧光光谱分析39

第四章 波长色散X射线荧光光谱分析39

4.1概述39

4.2 X射线的波长色散（晶体分光）40

4.3探测52

4.4测量58

4.5谱仪性能测试63

4.6波长色散X射线荧光光谱仪现状及其应用67

参考文献71

第五章 能量色散X射线荧光光谱分析73

5.1概述73

5.2谱仪基本结构73

5.3滤波选择75

5.4二次激发76

5.5探测器77

5.6能谱采集82

5.7 WDXRF谱仪与EDXRF谱仪的区别86

5.8谱仪性能测试89

5.9能量色散X射线荧光光谱仪的现状及其应用90

参考文献94

第六章 样品制备96

6.1概述96

6.2固体块样的制备98

6.3粉末样的制备100

6.4熔融样的制备102

6.5溶液样的制备105

6.6特殊样品的制备107

参考文献114

第七章 定性分析和半定量分析116

7.1概述116

7.2定性分析117

7.3半定量分析119

参考文献122

第八章 定量分析123

8.1概述123

8.2外标法124

8.3内标法127

8.4增量法130

8.5数学校正法131

8.6波长色散谱仪定量分析条件的设定134

8.7能量色散谱仪定量分析条件的设定136

8.8 X射线荧光光谱定量分析中的不确定度137

参考文献145

第三篇 其它X射线光谱分析149

第九章 全反射X射线荧光光谱分析149

9.1概述149

9.2 TXRF基本原理和装置150

9.3全反射X射线荧光光谱仪152

9.4全反射X射线荧光分析的基本特点154

9.5全反射X射线荧光光谱分析的应用与展望157

参考文献159

第十章 电子探针显微分析161

10.1概述161

10.2仪器构造与工作原理162

10.3电子探针显微分析仪的分析方法及应用169

10.4电子探针显微分析仪性能测试176

参考文献178

第十一章 质子激发X射线光谱分析180

11.1概述180

11.2质子激发X射线光谱分析装置180

11.3质子静电加速器182

11.4 PIXE真空分析靶室182

11.5 PIXE非真空分析装置184

11.6 PIXE分析样品制备185

参考文献188

附录190

附录1 K壳层临界及激发能和K系特征X射线能量190

附录2 K壳层临界吸收限和K系特征X射线波长195

附录3 K系特征X射线相对强度和K壳层荧光产额200

附录4 L壳层临界激发能和L系特征X射线能量205

附录5 L壳层临界吸收限和L系特征X射线波长210

附录6 L系特征X射线相对强度和壳层平均荧光产额215

附录7 M系特征X射线波长219

附录8 M系特征X射线能量221