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第1章 绪论1

1.1 原子吸收光谱仪器研究和商品仪器的开发1

1.1.1 原子吸收光谱仪器工作原理的形成1

1.1.2 由原理样机到生产样机的研究开发6

1.2 原子吸收光谱商品仪器的发展及现状14

1.3 原子吸收光谱仪器的主要特点16

1.4 原子吸收光谱分析的应用17

参考文献18

第2章 原子吸收光谱测量原理20

2.1 Walsh测量峰值吸收的思想20

2.2 原子吸收谱线与吸收系数21

2.3 积分吸收系数与峰值吸收系数22

2.4 原子吸收光谱分析的基本关系式23

2.5 原子吸收光谱分析法的实际测量24

2.6 原子吸收光谱分析的定量方法25

2.6.1 标准曲线法25

2.6.2 标准加入法25

2.6.3 标准曲线的制作26

2.7 影响测量结果的因素27

参考文献29

第3章 仪器基本构造30

3.1 光源系统30

3.1.1 原子吸收光谱仪对光源的要求30

3.1.4 空心阴极灯31

3.1.2 气体放电灯基本原理31

3.1.3 气体放电光源的优点31

3.1.5 无极放电灯36

3.1.6 氘灯37

3.1.7 连续光源40

3.2 原子化系统42

3.2.1 火焰原子化系统42

3.2.2 非火焰原子化系统51

3.3 光学系统55

3.3.1 光束会聚子系统55

3.3.2 光度子系统57

3.3.3 分光子系统58

3.3.5 光学件支持与调节系统66

3.3.4 光信号接收系统66

3.4 检测系统69

3.4.1 光电倍增管工作原理70

3.4.2 光电倍增管基本结构与类型71

3.4.3 光电倍增管的特性参数71

3.5 电学系统72

3.5.1 光源供电及位置调控电路73

3.5.2 原子化系统调控电路73

3.5.3 光学系统调控电路74

3.5.4 检测器调控电路74

3.5.5 信号读出与显示系统74

3.6.1 背景干扰的产生与特性75

3.6 背景校正系统75

3.6.2 背景校正技术发展概况76

3.6.3 背景校正装置工作原理与特点77

3.6.4 背景校正装置的构造79

3.7 数据处理系统80

3.7.1 分析数据库管理系统81

3.7.2 信号处理系统81

3.7.3 数据处理系统81

3.7.4 分析数据质量控制82

参考文献83

4.2.1 准确度与重复性的含义84

4.2 波长准确度与重复性84

4.1 概述84

第4章 仪器性能评价与检验84

4.2.2 影响波长准确度与重复性的因素85

4.2.3 波长准确度与重复性的检验方法85

4.3 分辨力86

4.3.1 分辨力的含义86

4.3.2 影响分辨力的因素87

4.3.3 分辨力的检验方法88

4.4 基线稳定性88

4.4.1 基线稳定性的含义88

4.4.2 影响基线稳定性的因素89

4.4.3 检验基线稳定性的方法90

4.5.2 影响特征浓度（特征量）与灵敏度的因素92

4.5 特征浓度（特征量）与灵敏度92

4.5.1 特征浓度（特征量）与灵敏度的含义92

4.5.3 特征浓度（特征量）与灵敏度的检验方法93

4.6 精密度与准确度93

4.6.1 精密度与准确度的含义93

4.6.2 影响精密度与准确度的因素94

4.6.3 精密度与准确度的检验方法94

4.7 检出限95

4.7.1 检出限的含义95

4.7.2 影响检出限的因素95

4.7.3 检出限的检验方法95

4.8.2 影响背景校正能力的因素96

4.8.1 背景校正能力的含义96

4.8 背景校正能力96

4.8.3 背景校正能力的检验方法98

4.9 边缘能量98

4.9.1 边缘能量的含义98

4.9.2 影响边缘能量的因素99

4.9.3 检验边缘能量的方法99

4.10 性能评价体系的有关问题99

4.10.1 名词术语方面100

4.10.2 指标要求方面101

4.10.3 检验方法方面101

参考文献103

5.1.1 工作环境要求104

第5章 仪器的使用与维护104

5.1 工作环境与安全保障要求104

5.1.2 工作条件要求105

5.2 安装108

5.2.1 货品验收与开箱108

5.2.2 安装前的准备108

5.2.3 主机安装109

5.2.4 原子化器系统的安装110

5.2.5 配套设备的安装113

5.2.6 管道泄漏的检查115

5.3 验收115

5.3.1 验收项目115

5.3.3 验收内容与方法116

5.3.2 验收要求116

5.4 参数选择与使用要点120

5.4.1 光源的使用及参数选择120

5.4.2 光学系统的使用与参数选择123

5.4.3 原子化系统的使用与参数选择125

5.4.4 电学与数据处理系统的使用与参数选择132

5.5 日常保养与维护134

5.5.1 光源系统134

5.5.2 光学系统135

5.5.3 检测系统136

5.5.4 原子化系统136

5.5.5 气水供给系统139

5.5.6 电路系统140

参考文献140

第6章 常见故障分析与处置方法141

6.1 光源系统故障分析与处置141

6.1.1 空心阴极灯故障分析141

6.1.2 氘灯故障分析142

6.2 光学系统故障分析与处置143

6.2.1 分光系统故障分析143

6.2.2 光束传导系统故障分析144

6.3 原子化系统故障分析与处置144

6.3.1 火焰原子化系统故障分析144

6.3.2 石墨炉原子化系统故障分析145

6.4 检测系统故障分析与处置146

6.5 电学系统故障分析与处置147

6.6 数据处理系统故障分析与处置148

6.7 背景校正系统故障分析与处置148

6.7.1 氘灯背景校正故障分析148

6.7.2 自吸效应背景校正故障分析149

6.7.3 塞曼效应背景校正故障分析149

6.8 故障综合因素分析与处置150

6.9 紧急情况分析与处置152

参考文献152

7.1 空气压缩机153

7.1.1 类型与结构特点153

第7章 主要附件153

7.1.2 选配要求154

7.1.3 使用注意事项155

7.2 氢化物发生器155

7.2.1 工作原理155

7.2.2 结构及功能156

7.2.3 特点157

7.2.4 安装注意事项158

7.2.5 使用注意事项158

7.3 自动进样器160

7.3.1 基本结构160

7.3.4 使用维护注意事项162

7.3.2 技术规格162

7.3.3 功能特性162

7.4 冷却循环水机163

参考文献164

第8章 仪器技术的进展165

8.1 原子化器系统的进步165

8.1.1 火焰原子化系统165

8.1.2 石墨炉原子化器167

8.1.3 阴极溅射原子化器171

8.2 高分辨中阶梯光栅分光系统173

8.2.1 中阶梯光栅、棱镜两次色散一维分光系统173

8.2.2 中阶梯光栅、棱镜两次色散二维分光系统173

8.2.3 中阶梯光栅、棱镜两次色散电子扫描分光系统174

8.3.1 电荷耦合器件（CCD）176

8.3 固体检测器件的应用176

8.3.2 电荷注入器件（CID）177

8.3.3 CMOS图像传感器177

8.4 背景校正技术系统的发展178

8.4.1 一次测量背景校正系统商品仪器的问世178

8.4.2 连续光源一次测量背景校正法179

8.4.3 背景校正性能的改进与扩展180

8.5 快速检测电路与大规模IC元件的应用182

8.5.1 大规模集成电路对仪器进步的影响182

8.5.2 芯片间总线的使用183

8.5.3 快速检测电路183

参考文献184

8.6 仪器的自动化和智能化184

第9章 国内外原子吸收光谱仪器发展概要188

9.1 原子吸收光谱仪器的类型188

9.1.1 氘灯背景校正原子吸收光谱仪器188

9.1.2 塞曼背景校正原子吸收光谱仪器190

9.1.3 两种不同背景校正组合方式原子吸收光谱仪器195

9.2 国外原子吸收光谱仪器发展196

9.2.1 连续光源原子吸收光谱仪器196

9.2.2 多元素同时测定原子吸收光谱仪器197

9.3 国内原子吸收光谱仪器的发展198

参考文献202

附录 乙炔火焰使用安全要求204