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第一章 分布的拟合优度检验1

1.1 指数及双参数指数分布的拟合优度检验1

1.2 Weibull及Gumbel分布的拟合优度检验3

1.3 正态及对数正态分布的拟合优度检验5

1.4 分布间的鉴别8

1.5 拟合优度检验及分布鉴别的数值例11

1.6 拟合优度检验的若干通用方法20

参考文献28

附表1.1 W检验统计量W的系数ai的值30

附表1.2 W检验统计量W的α分位数Wa32

附表1.3 D检验统计量Y的a分位数Ya32

附表1.4 偏度检验统计量bs的p分位数Zp34

附表1.5 峰度检验统计量bk的p分位数Z′p34

附表1.6 统计量ω=？/σ分布的分位数36

第二章 异常值检验41

2.1 指数分布样本异常值的检验41

2.2 正态分布样本异常值的检验46

2.3 Weibull分布样本异常值的检验51

参考文献53

附表2.1 Tn（n）的临界值Tn（n）（1—α）54

附表2.2 Tn（1）的临界值Tn（1）（α）55

附表2.3 Nair检验的临界值58

附表2.4 Grubbs检验的临界值G1-a（n）60

附表2.5 极差对样本标准差之比W/s的临界值61

附表2.6 T（单边）检验的临界值61

附表2.7 同时检验两个最大或最小的观测值时，s2n-1,n/S2或S21,2/S2的临界值62

附表2.8 Dixon检验的临界值D1-a（n），（单侧）62

附表2.9 Dixon检验的临界值？1-a（n），（双侧）62

附表2.10 Dixon检验的临界值63

附表2.11 Irwin检验的临界值I1-a（n）63

第三章 产品的可靠性评定64

3.1 成败型产品的可靠性评定64

3.2 指数型产品的可靠性评定72

3.3 完全样本正态型、对数正态型产品的可靠性评定83

3.4 截尾样本时，正态型、对数正态型产品的可靠性评定92

3.5 威布尔（Weibull）型产品的可靠性评定102

3.6 Ⅰ型极小值分布产品的可靠性评定119

3.7 Ⅰ型极大值型产品的可靠性评定125

3.8 Gamma型产品的可靠性评定129

参考文献133

附表3.1 正态单边容许限系数表136

附表3.2 正态双边容许限系数表140

附表3.3 正态截尾样本的辅助估计函数表，λ（h,γ）144

附表3.4 正态截尾样本时的区间估计系数表（基于BLUE）146

附表3.4.1 t＊=（μ＊—μ）/σ＊的分位数146

附表3.4.2 ω＊=σ＊/σ的分位数147

附表3.4.3 （tR—μ＊）/σ＊的分位数148

附表3.5 Weibull截尾样本时的区间估计系数表（基于BLIE）151

附表3.5.1 V=（？—μ）/？的分位数151

附表3.5.2 V（R）=（？—xR）/？的分位数157

第四章 产品的维修性评定175

4.1 维修时间服从指数分布时的维修性评定175

4.2 维修时间服从正态分布时的维修性评定177

4.3 维修时间服从对数正态分布时的维修性评定179

4.4 维修时间服从Weibull分布时的维修性评定182

4.5 维修时间服从伽马（Gamma）分布时的维修性评定185

参考文献188

第五章 产品的可用性评定190

5.1 失效时间／维修时间均为Gamma分布时，产品的可用度下限190

5.2 失效时间／维修时间服从指数／对数正态分布时，产品的可用度下限191

参考文献193

附表5.1 α值表（γ=0.8）194

第六章 机械结构可靠性评定与设计195

6.1 结构可靠性的区间估计195

6.2 变差系数的区间估计199

6.3 安全系数的区间估计207

参考文献211

附表6.1 正态分布变差系数的置信上限表212

第七章 可靠性增长216

7.1 AMSAA-BISE模型216

7.2 Duane模型232

7.3 Crow的可靠性增长预测模型234

7.4 可靠性增长管理模型236

7.5 Gompertz模型241

7.6 顺序约束阶段可靠性增长模型242

7.7 维修性增长256

参考文献258

附表7.1 Laplace检验统计量μ的临界值μ1-α/2260

附表7.2 Cramer-Von Mises统计量C2M的临界值C2M,α表261

附表7.3.1 AMSAA-BISE模型定时截尾区间估计系数表262

附表7.3.2 AMSAA-BISE模型定时截尾随机化区间估计系数表（μ=0.5）264

附表7.4 AMSAA-BISE模型定数截尾区间估计系数表266

附表7.5 AMSAA-BISE模型预测区间估计系数表268

附表7.6 相关系数p=0时，经验相关系数？的临界值？表273

第八章 环境因子275

8.1 指数单元的环境因子275

8.2 指数串联系统的环境因子279

8.3 成败型单元的环境因子282

8.4 对数正态单元的环境因子285

8.5 Weibull单元的环境因子286

8.6 Weibull过程单元的环境因子288

8.7 Gamma单元的环境因子291

参考文献293

第九章 系统可靠性评定295

9.1 串联系统的可靠性评定295

9.2 并联系统的可靠性评定308

9.3 k/N（G）系统的可靠性评定315

9.4 相同指数单元旁联系统的可靠性评定321

9.5 和联系统的可靠性评定324

9.6 指数单元组成的系统MTBF评定331

9.7 冗余系统的可靠性设计335

9.8 单元及系统均取得试验数据时，系统的可靠性评定338

参考文献342

第十章 系统可用性评定344

10.1 快照单元的系统可用性下限344

10.2 相同指数失效／指数维修单元的系统可用性的精确下限346

10.3 不同指数失效／指数维修单元的系统可用性的近似下限350

参考文献354