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第一篇 可靠性与可靠性试验概论1

第一章 什么是电子产品的可靠性1

第二章 可靠性工程的特点4

第三章 影响电子产品可靠性的因素7

第四章 可靠性试验的定义与原理9

4.1 可靠性试验的定义9

4.2 可靠性试验的原理10

第五章 可靠性试验在可靠性工程中的地位12

第一篇复习题12

第二篇 电子元器件可靠性试验14

第六章 电子元器件失效率试验14

6.1 电子元器件可靠性试验的重要性14

6.2 电子元器件失效率试验的种类和方法14

6.2.1 失效率试验的种类14

6.2.2 失效率试验的方法15

6.3 失效率等级与置信度15

6.3.1 失效率等级15

6.3.2 标志15

6.3.3 置信度16

6.4 试验方法原理及抽样表16

6.5 失效率试验的一般要求20

6.6 失效率试验程序22

6.7 应用举例23

6.8 失效率、置信度、允许失效数和总试验时间的关系25

复习题28

第七章 威布尔分布下的抽样验证试验29

7.1 威布尔分布抽样验证程序30

7.2 用可靠寿命作指标的抽样验证方案30

7.3 用失效率作指标的抽样验证方案42

复习题48

第八章 电子元器件的加速寿命试验49

8.1 加速寿命试验的类型49

8.2 组织恒定应力加速寿命试验的注意事项50

8.3 恒定应力加速寿命试验的基本假定54

复习题56

第九章 试验数据的统计分析方法57

9.1 矩法估计57

9.2 指数分布中的点估计和区间估计问题58

9.2.1 指数分布中的点估计问题58

9.2.2 指数分布中的区间估计问题60

9.3 威布尔分布中的点估计和区间估计问题64

9.3.1 威布尔分布中的点估计64

9.3.2 威布尔分布的区间估计72

9.4 正态分布和对数正态分布的点估计和区间估计73

9.4.1 在正态概率纸上描点和配置分布直线73

9.4.2 估计均值μ和标准偏差σ74

9.4.3 点画F（ti）的置信区间75

9.4.4 给定to，对可靠度R（to）进行点估计和置信区间估计75

9.4.5 给定可靠度Ro，对可靠寿命t（Ro）进行点估计和置信区间估计76

9.5 加速寿命试验的参数图估计法77

9.5.1 对数正态分布的参数图估计法77

9.5.2 威布尔分布的参数图估计法81

9.6 加速系数82

9.6.1 加速系数的定义82

9.6.2 对数正态分布的加速系数83

9.6.3 威布尔分布的加速系数84

9.6.4 利用加速系数进行失效率换算的公式85

复习题86

第十章 电子元器件可靠性筛选、认定及认证试验88

10.1 元器件的可靠性筛选试验88

10.2 元器件的可靠性认定试验94

10.3 元器件的认证试验96

复习题97

第三篇 电子设备可靠性试验98

第十一章 设备可靠性试验概述98

11.1 可靠性试验的种类及其目的98

11.2 正确评定设备的可靠性100

复习题102

第十二章 统计试验方案103

12.1 试验参数的定义103

12.1.1 平均无故障工作时间（MTBF）103

12.1.2 判决风险率104

12.1.3 时间104

12.2 怎样正确选择试验参数104

12.3 定时截尾试验方案的设计106

12.4 定数截尾试验方案的设计108

12.5 概率比序贯试验方案的设计109

12.6 怎样正确选择试验方案111

12.6.1 分布假设的选择111

12.6.2 选择试验方案的原则111

12.7 标准型试验方案及其判决标准与接收概率曲线113

12.7.1 推荐的标准型试验方案113

12.7.2 标准型概率比序贯试验方案（PRST）的判决标准和接收概率曲线115

12.7.3 标准型定时截尾试验方案的判决标准和接收概率曲线129

12.7.4 全数可靠性试验方案的判决标准及接收概率曲线133

12.7.5 其它的全数可靠性验收方案136

12.7.6 其它定时截尾试验方案144

12.8 试验样品数量和试验时间的确定148

12.8.1 样品数量的确定148

12.8.2 试验时间的确定149

12.9 恒定失效率有效性检验149

12.10 用试验观察数据估计设备的平均无故障工作时间（MTBF）153

12.10.1 不要用统计试验方案的参数估计MTBF验证值153

12.10.2 采用观察数据，查X2表直接计算MTBF验证值154

12.10.3 根据试验中的观察数据，采用置信因子计算MTBF验证值155

12.10.4 序贯试验的置信限159

12.11 电子设备的可靠性指标169

复习题172

第十三章 可靠性试验的一般要求173

13.1 试验类型的选择173

13.2 可靠性试验的设计174

13.3 可靠性鉴定试验前应具备的条件175

13.3.1 可靠性预计175

13.3.2 制定可靠性试验方案176

11.3.3 热检查176

13.3.4 振动检查176

13.3.5 老炼预处理176

13.4 试验样品的要求177

13.4.1 可靠性鉴定试验样品178

13.4.2 可靠性验收试验样品178

13.5 试验设备、仪器仪表的要求178

13.6 试验的实施要求179

13.7 受试设备的检测要求179

13.7.1 检测方法与要求179

13.7.2 检测的参数180

13.7.3 参数测量和功能检查方法180

13.8 受试设备接收与否的判决180

13.9 纠正措施181

13.10 预防性维护181

13.11 受试设备的复原182

13.12 对可靠性试验的检查与监督183

13.12.1 使用方的检查与监督183

13.12.2 其他形式的检查与监督183

复习题183

第十四章 试验条件选择及试验周期设计185

14.1 电子设备的分类185

14.2 试验条件的分类186

14.3 试验条件的选择192

14.3.1 选择试验条件时应考虑的因素192

14.3.2 选择试验条件的原则193

14.3.3 应力水平及其时间分布的确定195

14.3.4 应力类型及等级的确定196

14.4 对基本环境试验方法的要求198

14.5 试验中的工作条件199

14.5.1 功能模式199

14.5.2 负载条件199

14.5.3 输入信号特性199

14.5.4 工作能源条件200

14.5.5 设备的实际操作条件200

14.6 试验周期（循环）与试验程序的设计200

14.6.1 什么叫试验周期200

14.6.2 试验周期持续时间的要求200

14.6.3 导出试验周期（循环）的程序200

14.7 推荐的试验周期201

14.7.1 推荐的综合应力试验周期201

14.7.2 推荐的部分综合应力试验周期201

14.7.3 多项试验应力单项循环逐次施加的试验周期202

14.8 编制可靠性试验程序的实例与说明203

14.8.1 地面固定使用设备的可靠性试验程序实例204

14.8.2 地面移动及车载设备的可靠性试验程序实例205

14.8.3 舰船用电子设备的可靠性试验程序实例209

14.8.4 机载通信导航设备的可靠性试验程序实例211

复习题214

第十五章 失效的分类、失效的分析与处理215

15.1 失效的定义及分类215

15.1.1 失效的一般定义215

15.1.2 失效类型216

15.1.3 失效分类217

15.2 失效时间的判定217

15.3 失效的处理方法218

15.4 失效的分析方法与要求218

15.5 失效的检修方法与要求219

15.6 失效的最后分类与相关失效数的确定220

15.6.1 失效的最后分类220

15.6.2 相关失效数的确定220

15.7 制定纠正措施方案224

复习题224

第十六章 试验的记录与报告225

16.1 电子设备可靠性试验报告225

16.2 可靠性试验测试记录225

16.3 可靠性试验失效综合报告表226

16.4 可靠性试验失效分析和修理报告表226

16.5 反复失效和导致立即作出拒收判决失效的分析和纠正措施实施情况报告表226

16.6 电子设备可靠性试验简报226

复习题231

第十七章 设备的老炼预筛选试验232

17.1 老炼试验方法232

17.1.1 计算无失效间隔试验232

17.1.2 趋势试验方法232

17.2 MTBF保证试验234

17.3 摘要介绍美国设备环境应力筛选的经验和研究成果235

复习题240

第十八章 可靠性增长试验方法242

18.1 概述242

18.2 术语243

18.3 一般要求243

18.3.1 可靠性试验之前的要求243

18.3.2 试验条件和应力等级244

18.3.3 试验前和试验后的条件244

18.3.4 受试设备性能244

18.3.5 失效记录、分析及改正措施系统（FRACAS）245

18.3.6 试验程序的审查246

18.3.7 政府提供的器材247

18.4 详细要求247

18.4.1 可靠性试验前的处理247

18 4.2 试验程序和要求247

18.4.3 可靠性增长模型248

18.4.4 可靠性估计249

1 8.4.5 失效分析和改正措施250

18.4.6 维修250

18.4.7 综合环境试验条件等级250

18.5 杜安可靠性增长模型的说明和MTBF移动平均值法的探讨250

18.5.1 杜安可靠性增长模型251

18.5.2 移动平均值方法254

18.5.3 移动平均MTBF与杜安当前的MTBF的比较256

18.6 AMSAA模型增长分析256

复习题262

第十九章 现场可靠性试验264

19.1 试验的目的264

19.2 试验的一般要求265

19.3 试验的条件265

19.4 受试设备性能和相关试验时间265

19.5 数据的收集266

19.6 正确评定与比较现场可靠性数据与试验室模拟可靠性试验数据266

复习题267

第二十章 可靠性试验技术与管理268

20.1 可靠性试验技术268

20.2 关于大中型电子设备的可靠性评定269

20.3 可靠性试验的管理270

20.3.1 可靠性试验管理的重要性270

20.3.2 可靠性试验管理的内客270

复习题272

附录273

附录1 基本名词术语及定义（有关的和主要的）273

附录2a 可靠性工程实施程序及考核要求（适用于中小型设备）277

附录2b 可靠性工程和质量控制（适用于大中型或小子样系统）279

附录3a x2分布的上侧分位数表284

附录3b x2布分的下侧分位数表286

附录4a 中位秩表289

附录4b 10％和90％秩置信限290

附录4c 5％和95％秩置信限292

附录4d 2.5％和97.5％秩置信限294

附录4e 0.5％和99.5％秩置信限296

附录5 推荐一个民用移动通信设备的可靠性试验方案298

参考资料303